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加利福尼亚州圣何塞,2024年9月10日——布鲁克公司今日宣布推出DektakProTM探针式轮廓仪,Dektak®产品线中的下一代轮廓仪。新的台式系统融合了超过55年的创新成果,为半导体应用提供了高达200毫米的全尺寸样品测量区域,并通过改善用户体验和测量精度缩短了获得结果的时间。DektakPro的进步巩固......
赛默飞X射线荧光光谱仪是一种用于分析材料成分的仪器,其基本工作原理是利用X射线照射样品,使样品中的元素原子受到激发,从而产生特征X射线荧光。通过测量这些特征X射线荧光的能量和强度,可以确定样品中元素的种类和含量。具体来说,赛默飞X射线荧光光谱仪的基本工作原理可以分为以下几个步骤:1、产生X射线:仪器内部有一个X射线管,......
上海尔迪仪器科技有限公司邀您第25届参加中国国际光电博览会(CIOE2024)时间:2024年9月11-13日展位号:3A32地址:深圳国际会展中心我们期待您的到来!‌中国国际光电博览会(CIOE)‌是一个具规模及影响力的光电产业综合性展会,自1999年创办于‌深圳以来,每年9月初在深圳会展中心举行,该博览会涵盖了光电......
BRUKER原子力显微镜是一种高分辨率的成像技术,可以用于研究材料的微观结构。通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。以下是BRUKER原子力显微镜一些具体的应用场景:1、表面形貌分析:它可以对材料表面的微观形貌进行高分辨率成像,从而帮助研究人员了解材料的表面粗......
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